Изобретение предложено для визуального исследования и фотографирования малоконтрастных микроскопических структур, находящихся на пределе разрешающей способности световых микроскопов . Предлагаемый объектив предназначен для использования в универсальных исследовательских моделях микроскопов, оснащенных всеми современными методами исследования объектов в естественном свете, в поляризованном свете, в свете видимой люминесценции , методами светлого поля, темного поля, фазового и аноптрального контраста и др. Целью изобретения является повышение информационной емкости изображения в результате исправления кривизны и хроматической разности увеличений при увеличении числовой апертуры и линейного поля.
Поставленная цель достигается тем, что третий компонент выполнен трехсклеенным из двух двояковыпуклых крайних линз и двояковогнутой средней , четвертый выполнен в виде двояковыпуклой положительной линзы, а позади четвертого компонента введен двусклеенный мениск, обращенной выпуклостью к объекту, составленный из двояковыпуклой и двояковогнутой линз. В качестве материала положительных линз второго, третьего и четвертого компонентов выбран материал с коэффициентом дисперсии, а в качестве материала линз двусклеенного мениска - стекла. Кроме того, для лучшего исправления сферической аберрации в наклонных пучках выполнено соотношение наружных радиусов кривизны первого и последнего менисков.